الفهرس الالي لمكتبة كلية العلوم و علوم التكنولوجيا
Résultat de la recherche
8 résultat(s) recherche sur le mot-clé 'vide'
Affiner la recherche Générer le flux rss de la recherche
Partager le résultat de cette recherche Interroger des sources externes
T 1. Physique appliquée aux industries du vide et de l'électronique / Georges Albert Boutry
Titre : Physique appliquée aux industries du vide et de l'électronique : Technique du vide - l'électron libre l’électron producteur de lumière Type de document : texte imprimé Auteurs : Georges Albert Boutry Editeur : Paris : Masson Année de publication : 1962 Importance : v. 1 (388 p.) Présentation : ill. - Format : 24 cm Mots-clés : vide gaz raréfiés pompes physico-chimie électron rayonnement Index. décimale : 530 Résumé : le vide-les gaz raréfiés-vitesse de pompes- technique de vide physico-chimie-électron libre-électron producteur-rayonnement par luminescence-les gaz raréflés en équilibre-lesgaz raréfiés en mouvement-vitesse de pompage et débit des canalisations-pompes préliminaires-pompes moléculaires-les mesures en technique du vide-physico-chimie du vide-l'electron libre isolé-l'électron,particule élémentaire-elements de balistique électronique(non relativiste)l'électron productrue d'énergie lumineuse-l'énergie rayonnante:généralités-le radiateur intégral et les lamps électriques à incandescence-rayonnement par luminescence:spectres de raies-rayonnement par luminexence:spectres de raies-excitation et ionisation des gaz et desvapeurs-la décharge électrique dans les gaz raréflés Physique appliquée aux industries du vide et de l'électronique : Technique du vide - l'électron libre l’électron producteur de lumière [texte imprimé] / Georges Albert Boutry . - Paris : Masson, 1962 . - v. 1 (388 p.) : ill. - ; 24 cm.
Mots-clés : vide gaz raréfiés pompes physico-chimie électron rayonnement Index. décimale : 530 Résumé : le vide-les gaz raréfiés-vitesse de pompes- technique de vide physico-chimie-électron libre-électron producteur-rayonnement par luminescence-les gaz raréflés en équilibre-lesgaz raréfiés en mouvement-vitesse de pompage et débit des canalisations-pompes préliminaires-pompes moléculaires-les mesures en technique du vide-physico-chimie du vide-l'electron libre isolé-l'électron,particule élémentaire-elements de balistique électronique(non relativiste)l'électron productrue d'énergie lumineuse-l'énergie rayonnante:généralités-le radiateur intégral et les lamps électriques à incandescence-rayonnement par luminescence:spectres de raies-rayonnement par luminexence:spectres de raies-excitation et ionisation des gaz et desvapeurs-la décharge électrique dans les gaz raréflés Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST3767 530/233.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Exclu du prêt LE VIDE POUSSE AU LABORATOIRE ET DANS LINDUSTRIE / G. GRIGOROV
Titre : LE VIDE POUSSE AU LABORATOIRE ET DANS LINDUSTRIE Type de document : texte imprimé Auteurs : G. GRIGOROV, Auteur Mention d'édition : paris Editeur : Masson Année de publication : 1970 Importance : 482 PAGE Format : 25 cm./18cm Langues : Français (fre) Mots-clés : bases vide fondamentaux cinétique molécules viscosité gaz canalisations régime visqueux intermé moyens volumétrique pompe mécaniques rotatives Index. décimale : 670 Génie Industriel Résumé : bases;vide;fondamentaux;cinétique;molécules;viscosité;gaz;molécules;canalisations;régime;visqueux;intermé;moyens;volumétrique;pompe;mécaniques;rotatives; LE VIDE POUSSE AU LABORATOIRE ET DANS LINDUSTRIE [texte imprimé] / G. GRIGOROV, Auteur . - paris . - [S.l.] : Masson, 1970 . - 482 PAGE ; 25 cm./18cm.
Langues : Français (fre)
Mots-clés : bases vide fondamentaux cinétique molécules viscosité gaz canalisations régime visqueux intermé moyens volumétrique pompe mécaniques rotatives Index. décimale : 670 Génie Industriel Résumé : bases;vide;fondamentaux;cinétique;molécules;viscosité;gaz;molécules;canalisations;régime;visqueux;intermé;moyens;volumétrique;pompe;mécaniques;rotatives; Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST12129 670/98.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Exclu du prêt 2. Électromagnétisme / Michel Hulin
Titre : Électromagnétisme : Ondes électromagnétiques Type de document : texte imprimé Auteurs : Michel Hulin (1936-1988), Auteur Editeur : Hulin Michel Année de publication : 1971 Importance : vol. 2 (98 p.) Présentation : ill.coll. vert Format : 27 cm Note générale : Broché
ASIN: B00BHHVVDU
Moyenne des commentaires client : Soyez la première personne à écrire un commentaire sur cet article
Classement des meilleures ventes d'Amazon: 1.230.637 en Livres (Voir les 100 premiers en Livres)
n°112375 dans Personnages scientifiques (Livres)Langues : Français (fre) Mots-clés : propagations vide électromagnétique ondes conditions charges Index. décimale : 537.5 Résumé : Sommaire :
propagations dans le vide des ondes électromagnétique
ondes électromagnétique et énergie
propagations des ondes électromagnétique planes
conditions aux limites imposées au champ électromagnétique
champ électromagnétique d'une charges ponctuelle solution approchée
champ électromagnétique d'une charges ponctuelle solution rigoureuse
Électromagnétisme : Ondes électromagnétiques [texte imprimé] / Michel Hulin (1936-1988), Auteur . - [S.l.] : Hulin Michel, 1971 . - vol. 2 (98 p.) : ill.coll. vert ; 27 cm.
Broché
ASIN: B00BHHVVDU
Moyenne des commentaires client : Soyez la première personne à écrire un commentaire sur cet article
Classement des meilleures ventes d'Amazon: 1.230.637 en Livres (Voir les 100 premiers en Livres)
n°112375 dans Personnages scientifiques (Livres)
Langues : Français (fre)
Mots-clés : propagations vide électromagnétique ondes conditions charges Index. décimale : 537.5 Résumé : Sommaire :
propagations dans le vide des ondes électromagnétique
ondes électromagnétique et énergie
propagations des ondes électromagnétique planes
conditions aux limites imposées au champ électromagnétique
champ électromagnétique d'une charges ponctuelle solution approchée
champ électromagnétique d'une charges ponctuelle solution rigoureuse
Réservation
Réserver ce document
Exemplaires (5)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST1911 537.5/160.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Exclu du prêt ST1912 537.5/160.2 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST1913 537.5/160.3 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST1914 537.5/160.4 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST1915 537.5/160.5 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible Microscopie électronique à balayage et Microanalyses et Miceroanlyses / BRISSET fraçois
Titre : Microscopie électronique à balayage et Microanalyses et Miceroanlyses Type de document : texte imprimé Auteurs : BRISSET fraçois, Auteur Editeur : Les Ulis (Essonne) : EDP sciences Année de publication : 2008 Importance : 892 P. Présentation : ill.coll. Rouge Format : 25 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-0082-7 Prix : 126,67 € Note générale : Éditeur : EDP Sciences (15 janvier 2009)
Langue : Français
Broché : 892 pages
ISBN-10 : 2759800822
ISBN-13 : 978-2759800827
Poids de l'article : 1.78 kg
Dimensions : 17 x 4.2 x 24.8 cmLangues : Français (fre) Mots-clés : microscopie électronique balayage microanalyses optimisation optique électronique vide image en meb rayons x eds wds ebsd fib met anglesdistrsion Index. décimale : 535 Résumé : La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques d'utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. A côté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse TKD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l'ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées. Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l'édition de 2008, aujourd'hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint-Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de micro-Analyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l'ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été et d'autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.
Extrait de l'introduction :
Laurent Maniguet, Monique Repoux, Jacky Ruste, Francine Roussel-Dherbey
La caractérisation poussée des matériaux est un besoin permanent dans de nombreux domaines et ce n'est pas le développement des méthodes de modélisation et de simulation numérique qui va totalement modifier cet état de fait. Il est en effet bien difficile de prévoir le comportement d'un matériau par un code de calcul sans avoir à introduire un certain nombre grandeurs physicochimiques adéquates, et la validation des résultats obtenus ne peut se faire pleinement sans une comparaison avec l'expérience...
Cette caractérisation, indispensable, peut être visuelle : état de surface, topographie, taille de grains des métaux, observation des défectuosités (fissurations, endommagements, fractures, etc.), porosité des céramiques, formes et répartition des charges dans les polymères, observation des nanomatériaux ou des cellules biologiques. Elle peut aussi être chimique : analyse locale de phases, d'inclusions, d'impuretés, ou encore cristallographique. Ce ne sont là que quelques exemples.
Depuis son apparition, le microscope électronique à balayage (MEB) s'est révélé être un puissant outil de caractérisation des matériaux, en particulier pour la topographie des surfaces. Si c'est avant tout un «microscope», c'est à dire un instrument d'observation, il prouve, on le verra tout au long de cet ouvrage, qu'il est bien plus encore ! Le terme «électronique» témoigne de l'utilisation d'électrons et celui de «balayage» rappelle que c'est au cours du déplacement du faisceau d'électrons sur la surface de l'échantillon que se construit l'image de l'échantillon sur l'écran de visualisation. Cette technique, fondée principalement sur la détection des signaux émergents d'une zone proche de la surface de l'échantillon sous l'impact d'un faisceau d'électrons, permet d'obtenir des images avec, d'une part, un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm (sur les derniers MEB-FEG), et d'autre part, une grande profondeur de champ.
La détection des signaux comprend la mesure de l'intensité des électrons secondaires émis et rétrodiffusés par l'échantillon, mais aussi l'analyse des photons X générés en fonction de leur énergie (EDS) ou de leur longueur d'onde (WDS), l'analyse des photons ultraviolet, visible et infrarouge avec la cathodoluminescence, l'analyse des directions suivant lesquelles diffractent les électrons rétrodiffusés (EBSD), qui vont nous donner, après traitement des données, des informations sur, la topographie, la composition chimique et/ou l'orientation cristallographique des matériaux... C'est aussi le traitement des données qui permet d'appréhender l'analyse d'échantillons stratifiés ou de reconstituer des images en 3 dimensions.
Ainsi, les multiples possibilités de détection et d'exploitation des signaux permettent à de nombreuses techniques annexes de se développer, en faisant du MEB un outil de première importance.Note de contenu : iondex Microscopie électronique à balayage et Microanalyses et Miceroanlyses [texte imprimé] / BRISSET fraçois, Auteur . - Les Ulis (Essonne) : EDP sciences, 2008 . - 892 P. : ill.coll. Rouge ; 25 cm.
ISBN : 978-2-7598-0082-7 : 126,67 €
Éditeur : EDP Sciences (15 janvier 2009)
Langue : Français
Broché : 892 pages
ISBN-10 : 2759800822
ISBN-13 : 978-2759800827
Poids de l'article : 1.78 kg
Dimensions : 17 x 4.2 x 24.8 cm
Langues : Français (fre)
Mots-clés : microscopie électronique balayage microanalyses optimisation optique électronique vide image en meb rayons x eds wds ebsd fib met anglesdistrsion Index. décimale : 535 Résumé : La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques d'utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. A côté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse TKD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l'ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées. Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l'édition de 2008, aujourd'hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint-Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de micro-Analyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l'ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été et d'autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.
Extrait de l'introduction :
Laurent Maniguet, Monique Repoux, Jacky Ruste, Francine Roussel-Dherbey
La caractérisation poussée des matériaux est un besoin permanent dans de nombreux domaines et ce n'est pas le développement des méthodes de modélisation et de simulation numérique qui va totalement modifier cet état de fait. Il est en effet bien difficile de prévoir le comportement d'un matériau par un code de calcul sans avoir à introduire un certain nombre grandeurs physicochimiques adéquates, et la validation des résultats obtenus ne peut se faire pleinement sans une comparaison avec l'expérience...
Cette caractérisation, indispensable, peut être visuelle : état de surface, topographie, taille de grains des métaux, observation des défectuosités (fissurations, endommagements, fractures, etc.), porosité des céramiques, formes et répartition des charges dans les polymères, observation des nanomatériaux ou des cellules biologiques. Elle peut aussi être chimique : analyse locale de phases, d'inclusions, d'impuretés, ou encore cristallographique. Ce ne sont là que quelques exemples.
Depuis son apparition, le microscope électronique à balayage (MEB) s'est révélé être un puissant outil de caractérisation des matériaux, en particulier pour la topographie des surfaces. Si c'est avant tout un «microscope», c'est à dire un instrument d'observation, il prouve, on le verra tout au long de cet ouvrage, qu'il est bien plus encore ! Le terme «électronique» témoigne de l'utilisation d'électrons et celui de «balayage» rappelle que c'est au cours du déplacement du faisceau d'électrons sur la surface de l'échantillon que se construit l'image de l'échantillon sur l'écran de visualisation. Cette technique, fondée principalement sur la détection des signaux émergents d'une zone proche de la surface de l'échantillon sous l'impact d'un faisceau d'électrons, permet d'obtenir des images avec, d'une part, un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm (sur les derniers MEB-FEG), et d'autre part, une grande profondeur de champ.
La détection des signaux comprend la mesure de l'intensité des électrons secondaires émis et rétrodiffusés par l'échantillon, mais aussi l'analyse des photons X générés en fonction de leur énergie (EDS) ou de leur longueur d'onde (WDS), l'analyse des photons ultraviolet, visible et infrarouge avec la cathodoluminescence, l'analyse des directions suivant lesquelles diffractent les électrons rétrodiffusés (EBSD), qui vont nous donner, après traitement des données, des informations sur, la topographie, la composition chimique et/ou l'orientation cristallographique des matériaux... C'est aussi le traitement des données qui permet d'appréhender l'analyse d'échantillons stratifiés ou de reconstituer des images en 3 dimensions.
Ainsi, les multiples possibilités de détection et d'exploitation des signaux permettent à de nombreuses techniques annexes de se développer, en faisant du MEB un outil de première importance.Note de contenu : iondex Réservation
Réserver ce document
Exemplaires (3)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST2048 535/90.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Exclu du prêt ST2049 535/90.2 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST12973 535/90.3 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible Problèmes résolus sur les ondes / Hubert Lumbroso
Titre : Problèmes résolus sur les ondes : dans le vidr et les conducteurs propagations et rayonnement classes préparatoires 1er cycle universitaire Type de document : texte imprimé Auteurs : Hubert Lumbroso, Auteur Mention d'édition : nouveau tirage Editeur : paris : Dunod université Année de publication : 1991 Importance : 356 P. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-04-019872-5 Prix : 12,44 € Note générale : Editeur : Bordas Editions (6 avril 1993)
Collection : Dunod Université
Langue : Français
ISBN-10 : 2040198725
ISBN-13 : 978-2040198725
Dimensions du produit : 24 x 15,5 x 2,1 cm
Moyenne des commentaires client : Soyez la première personne à écrire un commentaire sur cet article
Classement des meilleures ventes d'Amazon : 661.014 en Livres (Voir les 100 premiers en Livres)
n°9314 dans Langues et littératures étrangères pour l'université
n°88195 dans Sciences, Techniques et Médecine (Livres)
n°98997 dans Sciences humaines (Livres)Langues : Français (fre) Mots-clés : propagations des ondes électromagnétiques vide réflexion et transmission conducteurs-pression conducteurs plasmas rayonnement des ondes Index. décimale : 537.5 Résumé : Sommaire :
A-propagations des ondes électromagnétiques équations de maxwell
1-propagations des ondes électromagnétiques dans le vide
2-réflexion et propagations guidée dans le vide limité par des conducteurs
3- transmission et conducteurs-pression propagations d'ondes électromagnétique dans les conducteurs et les plasmas
B-phénomènes d'émission et rayonnement
rayonnement des ondes électromagnétiques dans le videNote de contenu : problèmes pour chaque chapitre Problèmes résolus sur les ondes : dans le vidr et les conducteurs propagations et rayonnement classes préparatoires 1er cycle universitaire [texte imprimé] / Hubert Lumbroso, Auteur . - nouveau tirage . - paris : Dunod université, 1991 . - 356 P. : ill. ; 24 cm.
ISBN : 978-2-04-019872-5 : 12,44 €
Editeur : Bordas Editions (6 avril 1993)
Collection : Dunod Université
Langue : Français
ISBN-10 : 2040198725
ISBN-13 : 978-2040198725
Dimensions du produit : 24 x 15,5 x 2,1 cm
Moyenne des commentaires client : Soyez la première personne à écrire un commentaire sur cet article
Classement des meilleures ventes d'Amazon : 661.014 en Livres (Voir les 100 premiers en Livres)
n°9314 dans Langues et littératures étrangères pour l'université
n°88195 dans Sciences, Techniques et Médecine (Livres)
n°98997 dans Sciences humaines (Livres)
Langues : Français (fre)
Mots-clés : propagations des ondes électromagnétiques vide réflexion et transmission conducteurs-pression conducteurs plasmas rayonnement des ondes Index. décimale : 537.5 Résumé : Sommaire :
A-propagations des ondes électromagnétiques équations de maxwell
1-propagations des ondes électromagnétiques dans le vide
2-réflexion et propagations guidée dans le vide limité par des conducteurs
3- transmission et conducteurs-pression propagations d'ondes électromagnétique dans les conducteurs et les plasmas
B-phénomènes d'émission et rayonnement
rayonnement des ondes électromagnétiques dans le videNote de contenu : problèmes pour chaque chapitre Réservation
Réserver ce document
Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST2055 537.5/132.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible La pulvérisation cathodique industrielle / Christian Manasterski
PermalinkVibrations et Ondes / N. Maghlaoui
PermalinkPhysique des plasmas collisionnels / Michel Moisan
Permalink