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Microscopie électronique à balayage et Microanalyses et Miceroanlyses / BRISSET fraçois
Titre : Microscopie électronique à balayage et Microanalyses et Miceroanlyses Type de document : texte imprimé Auteurs : BRISSET fraçois, Auteur Editeur : Les Ulis (Essonne) : EDP sciences Année de publication : 2008 Importance : 892 P. Présentation : ill.coll. Rouge Format : 25 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-0082-7 Prix : 126,67 € Note générale : Éditeur : EDP Sciences (15 janvier 2009)
Langue : Français
Broché : 892 pages
ISBN-10 : 2759800822
ISBN-13 : 978-2759800827
Poids de l'article : 1.78 kg
Dimensions : 17 x 4.2 x 24.8 cmLangues : Français (fre) Mots-clés : microscopie électronique balayage microanalyses optimisation optique électronique vide image en meb rayons x eds wds ebsd fib met anglesdistrsion Index. décimale : 535 Résumé : La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques d'utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. A côté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse TKD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l'ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées. Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l'édition de 2008, aujourd'hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint-Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de micro-Analyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l'ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été et d'autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.
Extrait de l'introduction :
Laurent Maniguet, Monique Repoux, Jacky Ruste, Francine Roussel-Dherbey
La caractérisation poussée des matériaux est un besoin permanent dans de nombreux domaines et ce n'est pas le développement des méthodes de modélisation et de simulation numérique qui va totalement modifier cet état de fait. Il est en effet bien difficile de prévoir le comportement d'un matériau par un code de calcul sans avoir à introduire un certain nombre grandeurs physicochimiques adéquates, et la validation des résultats obtenus ne peut se faire pleinement sans une comparaison avec l'expérience...
Cette caractérisation, indispensable, peut être visuelle : état de surface, topographie, taille de grains des métaux, observation des défectuosités (fissurations, endommagements, fractures, etc.), porosité des céramiques, formes et répartition des charges dans les polymères, observation des nanomatériaux ou des cellules biologiques. Elle peut aussi être chimique : analyse locale de phases, d'inclusions, d'impuretés, ou encore cristallographique. Ce ne sont là que quelques exemples.
Depuis son apparition, le microscope électronique à balayage (MEB) s'est révélé être un puissant outil de caractérisation des matériaux, en particulier pour la topographie des surfaces. Si c'est avant tout un «microscope», c'est à dire un instrument d'observation, il prouve, on le verra tout au long de cet ouvrage, qu'il est bien plus encore ! Le terme «électronique» témoigne de l'utilisation d'électrons et celui de «balayage» rappelle que c'est au cours du déplacement du faisceau d'électrons sur la surface de l'échantillon que se construit l'image de l'échantillon sur l'écran de visualisation. Cette technique, fondée principalement sur la détection des signaux émergents d'une zone proche de la surface de l'échantillon sous l'impact d'un faisceau d'électrons, permet d'obtenir des images avec, d'une part, un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm (sur les derniers MEB-FEG), et d'autre part, une grande profondeur de champ.
La détection des signaux comprend la mesure de l'intensité des électrons secondaires émis et rétrodiffusés par l'échantillon, mais aussi l'analyse des photons X générés en fonction de leur énergie (EDS) ou de leur longueur d'onde (WDS), l'analyse des photons ultraviolet, visible et infrarouge avec la cathodoluminescence, l'analyse des directions suivant lesquelles diffractent les électrons rétrodiffusés (EBSD), qui vont nous donner, après traitement des données, des informations sur, la topographie, la composition chimique et/ou l'orientation cristallographique des matériaux... C'est aussi le traitement des données qui permet d'appréhender l'analyse d'échantillons stratifiés ou de reconstituer des images en 3 dimensions.
Ainsi, les multiples possibilités de détection et d'exploitation des signaux permettent à de nombreuses techniques annexes de se développer, en faisant du MEB un outil de première importance.Note de contenu : iondex Microscopie électronique à balayage et Microanalyses et Miceroanlyses [texte imprimé] / BRISSET fraçois, Auteur . - Les Ulis (Essonne) : EDP sciences, 2008 . - 892 P. : ill.coll. Rouge ; 25 cm.
ISBN : 978-2-7598-0082-7 : 126,67 €
Éditeur : EDP Sciences (15 janvier 2009)
Langue : Français
Broché : 892 pages
ISBN-10 : 2759800822
ISBN-13 : 978-2759800827
Poids de l'article : 1.78 kg
Dimensions : 17 x 4.2 x 24.8 cm
Langues : Français (fre)
Mots-clés : microscopie électronique balayage microanalyses optimisation optique électronique vide image en meb rayons x eds wds ebsd fib met anglesdistrsion Index. décimale : 535 Résumé : La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques d'utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. A côté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse TKD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l'ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées. Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l'édition de 2008, aujourd'hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint-Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de micro-Analyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l'ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été et d'autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.
Extrait de l'introduction :
Laurent Maniguet, Monique Repoux, Jacky Ruste, Francine Roussel-Dherbey
La caractérisation poussée des matériaux est un besoin permanent dans de nombreux domaines et ce n'est pas le développement des méthodes de modélisation et de simulation numérique qui va totalement modifier cet état de fait. Il est en effet bien difficile de prévoir le comportement d'un matériau par un code de calcul sans avoir à introduire un certain nombre grandeurs physicochimiques adéquates, et la validation des résultats obtenus ne peut se faire pleinement sans une comparaison avec l'expérience...
Cette caractérisation, indispensable, peut être visuelle : état de surface, topographie, taille de grains des métaux, observation des défectuosités (fissurations, endommagements, fractures, etc.), porosité des céramiques, formes et répartition des charges dans les polymères, observation des nanomatériaux ou des cellules biologiques. Elle peut aussi être chimique : analyse locale de phases, d'inclusions, d'impuretés, ou encore cristallographique. Ce ne sont là que quelques exemples.
Depuis son apparition, le microscope électronique à balayage (MEB) s'est révélé être un puissant outil de caractérisation des matériaux, en particulier pour la topographie des surfaces. Si c'est avant tout un «microscope», c'est à dire un instrument d'observation, il prouve, on le verra tout au long de cet ouvrage, qu'il est bien plus encore ! Le terme «électronique» témoigne de l'utilisation d'électrons et celui de «balayage» rappelle que c'est au cours du déplacement du faisceau d'électrons sur la surface de l'échantillon que se construit l'image de l'échantillon sur l'écran de visualisation. Cette technique, fondée principalement sur la détection des signaux émergents d'une zone proche de la surface de l'échantillon sous l'impact d'un faisceau d'électrons, permet d'obtenir des images avec, d'une part, un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm (sur les derniers MEB-FEG), et d'autre part, une grande profondeur de champ.
La détection des signaux comprend la mesure de l'intensité des électrons secondaires émis et rétrodiffusés par l'échantillon, mais aussi l'analyse des photons X générés en fonction de leur énergie (EDS) ou de leur longueur d'onde (WDS), l'analyse des photons ultraviolet, visible et infrarouge avec la cathodoluminescence, l'analyse des directions suivant lesquelles diffractent les électrons rétrodiffusés (EBSD), qui vont nous donner, après traitement des données, des informations sur, la topographie, la composition chimique et/ou l'orientation cristallographique des matériaux... C'est aussi le traitement des données qui permet d'appréhender l'analyse d'échantillons stratifiés ou de reconstituer des images en 3 dimensions.
Ainsi, les multiples possibilités de détection et d'exploitation des signaux permettent à de nombreuses techniques annexes de se développer, en faisant du MEB un outil de première importance.Note de contenu : iondex Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST2048 535/90.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Exclu du prêt ST2049 535/90.2 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST12973 535/90.3 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible Cours de l'école de microscopie électronique en science des matériaux / jouffrey bernard
Titre : Cours de l'école de microscopie électronique en science des matériaux Type de document : texte imprimé Auteurs : jouffrey bernard, Auteur Editeur : Paris : CNRS ©d. Année de publication : 1983 Importance : 617 p Présentation : ill.coll. vert Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-222-03232-8 Note générale : Editeur : Ed. du CNRS (2000)
Langue : Français
ISBN-10: 2222032326
ISBN-13: 978-2222032328
Moyenne des commentaires client : Soyez la première personne à écrire un commentaire sur cet articleLangues : Français (fre) Mots-clés : microscopie transfert collisions énergie forme conditions lentilles électroniques détection d'électrons image collisions électron-atome électrones de haute énergie diffraction images d'atomes minéralogie balayage en transmission traitement d'image Index. décimale : 537.5 Résumé : Ce livre fait suite à l'école de microscopie électronique en sciences des matériaux qui s'est tenue de 21 sep au 3 oct 1981 ) bombannes
cette mainifistation inscrite dans le cadre plus général des écoles dites du monétier vient en microscopie électrique
ce livre est essentiellement de langue française en ce qui concerne les chapitres en anglais il nous a semblé meilleur de rappeles en index les mots anglais ou leur traduction françaiseNote de contenu : index Cours de l'école de microscopie électronique en science des matériaux [texte imprimé] / jouffrey bernard, Auteur . - Paris : CNRS ©d., 1983 . - 617 p : ill.coll. vert ; 24 cm.
ISBN : 978-2-222-03232-8
Editeur : Ed. du CNRS (2000)
Langue : Français
ISBN-10: 2222032326
ISBN-13: 978-2222032328
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Mots-clés : microscopie transfert collisions énergie forme conditions lentilles électroniques détection d'électrons image collisions électron-atome électrones de haute énergie diffraction images d'atomes minéralogie balayage en transmission traitement d'image Index. décimale : 537.5 Résumé : Ce livre fait suite à l'école de microscopie électronique en sciences des matériaux qui s'est tenue de 21 sep au 3 oct 1981 ) bombannes
cette mainifistation inscrite dans le cadre plus général des écoles dites du monétier vient en microscopie électrique
ce livre est essentiellement de langue française en ce qui concerne les chapitres en anglais il nous a semblé meilleur de rappeles en index les mots anglais ou leur traduction françaiseNote de contenu : index Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST1975 537.5/185.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST1976 537.5/185.2 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Exclu du prêt ST1977 537.5/185.3 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST1978 537.5/185.4 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible Optique géométrique et physique, ondes / Serge Lazzarini
Titre : Optique géométrique et physique, ondes : cours et exercices corrigés ; PCEM, DEUG Type de document : texte imprimé Auteurs : Serge Lazzarini, Auteur ; Jean-Claude Serge Lévy (1942-....), Auteur ; Edgar Numa, Auteur Editeur : Paris : Ellipses Année de publication : 1993 Importance : 144 p. Présentation : ill. Format : 26 cm ISBN/ISSN/EAN : 2-7298-4319-1 Prix : 80 F Note générale : Poids de l'article : 240 g
Broché : 144 pages
ISBN-13 : 978-2729843199
Dimensions du produit : 17.5 x 1 x 26 cm
Éditeur : ELLIPSES (5 mai 1998)
Langue : : FrançaisLangues : Français (fre) Mots-clés : prisme optique systèmes centrés microscopie aspect ondulatoire propagation d'onde Index. décimale : 535 Résumé : Dans cet ouvrage consacré à l'étude de l'Optique et des Ondes pour P.C.E.M. et la première année de D.E.U.G., trois priorités s'imposent :
– montrer la cohérence logique de la conception de l'optique physique et de l'optique géométrique au sein de la physique,
– introduire les applications pratiques à la biologie, comme l'étude de l'oeil et de sa forme, celle de la loupe, du microscope, du microscope électronique, de la fibre optique, des limites instrumentales dues à la diffraction et l'échographie ultrasonore,
– enfin montrer que de nombreuses investigations sur ce canevas de base sont actuellement accessibles avec les moyens de calcul étudiés et pratiqués en classe de Terminale. Dans cette dernière perspective, on met en équation les mirages, les caustiques dans des cas simples de forme de miroir ou on étudie l'amplitude de l'écho ultrasonore.
Le choix de ces priorités détermine le mode de présentation en un bref cours, cadre logique et introductif aux méthodes de calcul de l'optique géométrique et physique et en exercices résolus qui permettent l'apprentissage et le développement de ces méthodes. Entre l'apprentissage et le développement de ces techniques, le niveau des exercices varie largement. Aussi afin de faciliter soit une première lecture sans difficulté, soit une recherche rapide des difficultés essentielles ici traitées, nous avons codé ce parcours à l'aide d'astérisques :
* signifie : exercice d'apprentissage sans difficulté particulière,
** désigne un exercice d'apprentissage élaboré qui demande la maîtrise simultanée de plusieurs techniques élémentaires,
*** indique la présence de difficultés de calcul, présence compensée par l'intérêt du résultat, c'est à dire du point de vue, en utilisant le langage des guides touristiques.
Bien entendu la présence de cours et d'exercices de difficulté graduée propose de fait des parcours de lecture diversifiés, avec des allers et retours entre cours et exercice vivement conseillés. Une telle perspective montre que le canevas propre du cours se réduit fortement et que bien des études énumérées dans le cours peuvent être considérées comme des exercices d'un caractère assez général.
SOMMAIRE
I. Introduction : • optique géométrique, optique physique • optique géométrique • aspect ondulatoire
II. Propagation : • principe de Fermat (mise en équation des mirages, relations de Descartes) • stigmatisme absolu : optiques à stigmatisme absolu (miroirs paraboliques et elliptiques…) caustiques
III. Un instrument singulier : le prisme • déviation, déviation minimale • déviation des prismes de faible angle aux petits angles • indice : relation de Cauchy et arcs-en-ciel • réflexion totale
IV. L'optique selon l'approximation de Gauss : • les relations de conjugaison homographiques • la géométrie projective
IV bis. Stigmatisme approché, suite : • les instruments simples • les miroirs sphériques, miroirs à facettes • le dioptre sphérique • les lentilles minces, lentilles de Fresnel
V. Introduction aux systèmes centrés : champ et latitude de mise au point • l'oeil • la loupe • le microscope
VI. Introduction à la microscopie électronique
VII. Aspect ondulatoire : Interférence et Diffraction • figure de diffraction à deux sources : trous et fentes d'Young • diffraction par un réseau de lignes • diffraction par une ouverture rectangulaire • pouvoir de résolution
VIII. Propagation d'onde et réponse d'un milieu ou d'une interface à une excitation extérieure • modèle atomique : résonances • modèle continu : impédance acoustique • relations de Fresnel, • application à l'échographie acoustiqueNote de contenu : index
ExercicesOptique géométrique et physique, ondes : cours et exercices corrigés ; PCEM, DEUG [texte imprimé] / Serge Lazzarini, Auteur ; Jean-Claude Serge Lévy (1942-....), Auteur ; Edgar Numa, Auteur . - Paris : Ellipses, 1993 . - 144 p. : ill. ; 26 cm.
ISBN : 2-7298-4319-1 : 80 F
Poids de l'article : 240 g
Broché : 144 pages
ISBN-13 : 978-2729843199
Dimensions du produit : 17.5 x 1 x 26 cm
Éditeur : ELLIPSES (5 mai 1998)
Langue : : Français
Langues : Français (fre)
Mots-clés : prisme optique systèmes centrés microscopie aspect ondulatoire propagation d'onde Index. décimale : 535 Résumé : Dans cet ouvrage consacré à l'étude de l'Optique et des Ondes pour P.C.E.M. et la première année de D.E.U.G., trois priorités s'imposent :
– montrer la cohérence logique de la conception de l'optique physique et de l'optique géométrique au sein de la physique,
– introduire les applications pratiques à la biologie, comme l'étude de l'oeil et de sa forme, celle de la loupe, du microscope, du microscope électronique, de la fibre optique, des limites instrumentales dues à la diffraction et l'échographie ultrasonore,
– enfin montrer que de nombreuses investigations sur ce canevas de base sont actuellement accessibles avec les moyens de calcul étudiés et pratiqués en classe de Terminale. Dans cette dernière perspective, on met en équation les mirages, les caustiques dans des cas simples de forme de miroir ou on étudie l'amplitude de l'écho ultrasonore.
Le choix de ces priorités détermine le mode de présentation en un bref cours, cadre logique et introductif aux méthodes de calcul de l'optique géométrique et physique et en exercices résolus qui permettent l'apprentissage et le développement de ces méthodes. Entre l'apprentissage et le développement de ces techniques, le niveau des exercices varie largement. Aussi afin de faciliter soit une première lecture sans difficulté, soit une recherche rapide des difficultés essentielles ici traitées, nous avons codé ce parcours à l'aide d'astérisques :
* signifie : exercice d'apprentissage sans difficulté particulière,
** désigne un exercice d'apprentissage élaboré qui demande la maîtrise simultanée de plusieurs techniques élémentaires,
*** indique la présence de difficultés de calcul, présence compensée par l'intérêt du résultat, c'est à dire du point de vue, en utilisant le langage des guides touristiques.
Bien entendu la présence de cours et d'exercices de difficulté graduée propose de fait des parcours de lecture diversifiés, avec des allers et retours entre cours et exercice vivement conseillés. Une telle perspective montre que le canevas propre du cours se réduit fortement et que bien des études énumérées dans le cours peuvent être considérées comme des exercices d'un caractère assez général.
SOMMAIRE
I. Introduction : • optique géométrique, optique physique • optique géométrique • aspect ondulatoire
II. Propagation : • principe de Fermat (mise en équation des mirages, relations de Descartes) • stigmatisme absolu : optiques à stigmatisme absolu (miroirs paraboliques et elliptiques…) caustiques
III. Un instrument singulier : le prisme • déviation, déviation minimale • déviation des prismes de faible angle aux petits angles • indice : relation de Cauchy et arcs-en-ciel • réflexion totale
IV. L'optique selon l'approximation de Gauss : • les relations de conjugaison homographiques • la géométrie projective
IV bis. Stigmatisme approché, suite : • les instruments simples • les miroirs sphériques, miroirs à facettes • le dioptre sphérique • les lentilles minces, lentilles de Fresnel
V. Introduction aux systèmes centrés : champ et latitude de mise au point • l'oeil • la loupe • le microscope
VI. Introduction à la microscopie électronique
VII. Aspect ondulatoire : Interférence et Diffraction • figure de diffraction à deux sources : trous et fentes d'Young • diffraction par un réseau de lignes • diffraction par une ouverture rectangulaire • pouvoir de résolution
VIII. Propagation d'onde et réponse d'un milieu ou d'une interface à une excitation extérieure • modèle atomique : résonances • modèle continu : impédance acoustique • relations de Fresnel, • application à l'échographie acoustiqueNote de contenu : index
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST5524 535/24.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Exclu du prêt ST5525 535/24.2 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST5526 535/24.3 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST5527 535/24.4 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST5528 535/24.5 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST5529 535/24.6 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST5530 535/24.7 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING / WILLIAM D.CALLISTER
Titre : MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING Type de document : texte imprimé Auteurs : WILLIAM D.CALLISTER, Auteur Mention d'édition : new york Editeur : New York : J. Wiley Année de publication : 1985 Importance : 601:PAGE Format : 16cm/24cm Langues : Français (fre) Mots-clés : materas scinque engineering atomicité bon ding solide cristalline planes monocristalline matérialiste microscopie Echangisme failure transformations basin Index. décimale : 670 Génie Industriel MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING [texte imprimé] / WILLIAM D.CALLISTER, Auteur . - new york . - New York : J. Wiley, 1985 . - 601:PAGE ; 16cm/24cm.
Langues : Français (fre)
Mots-clés : materas scinque engineering atomicité bon ding solide cristalline planes monocristalline matérialiste microscopie Echangisme failure transformations basin Index. décimale : 670 Génie Industriel Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST10512 670/44.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Exclu du prêt ST10513 670/44.2 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Disponible ST10514 670/44.3 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Disponible