| Titre : |
Microscopie électronique à balayage et Microanalyses et Miceroanlyses |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
BRISSET fraçois, Auteur |
| Editeur : |
Les Ulis (Essonne) : EDP sciences |
| Année de publication : |
2008 |
| Importance : |
892 P. |
| Présentation : |
ill.coll. Rouge |
| Format : |
25 cm. |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-7598-0082-7 |
| Prix : |
126,67 € |
| Note générale : |
Éditeur : EDP Sciences (15 janvier 2009)
Langue : Français
Broché : 892 pages
ISBN-10 : 2759800822
ISBN-13 : 978-2759800827
Poids de l'article : 1.78 kg
Dimensions : 17 x 4.2 x 24.8 cm |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
microscopie électronique balayage microanalyses optimisation optique électronique vide image en meb rayons x eds wds ebsd fib met anglesdistrsion |
| Index. décimale : |
535 |
| Résumé : |
La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques d'utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. A côté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse TKD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l'ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées. Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l'édition de 2008, aujourd'hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint-Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de micro-Analyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l'ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été et d'autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.
Extrait de l'introduction :
Laurent Maniguet, Monique Repoux, Jacky Ruste, Francine Roussel-Dherbey
La caractérisation poussée des matériaux est un besoin permanent dans de nombreux domaines et ce n'est pas le développement des méthodes de modélisation et de simulation numérique qui va totalement modifier cet état de fait. Il est en effet bien difficile de prévoir le comportement d'un matériau par un code de calcul sans avoir à introduire un certain nombre grandeurs physicochimiques adéquates, et la validation des résultats obtenus ne peut se faire pleinement sans une comparaison avec l'expérience...
Cette caractérisation, indispensable, peut être visuelle : état de surface, topographie, taille de grains des métaux, observation des défectuosités (fissurations, endommagements, fractures, etc.), porosité des céramiques, formes et répartition des charges dans les polymères, observation des nanomatériaux ou des cellules biologiques. Elle peut aussi être chimique : analyse locale de phases, d'inclusions, d'impuretés, ou encore cristallographique. Ce ne sont là que quelques exemples.
Depuis son apparition, le microscope électronique à balayage (MEB) s'est révélé être un puissant outil de caractérisation des matériaux, en particulier pour la topographie des surfaces. Si c'est avant tout un «microscope», c'est à dire un instrument d'observation, il prouve, on le verra tout au long de cet ouvrage, qu'il est bien plus encore ! Le terme «électronique» témoigne de l'utilisation d'électrons et celui de «balayage» rappelle que c'est au cours du déplacement du faisceau d'électrons sur la surface de l'échantillon que se construit l'image de l'échantillon sur l'écran de visualisation. Cette technique, fondée principalement sur la détection des signaux émergents d'une zone proche de la surface de l'échantillon sous l'impact d'un faisceau d'électrons, permet d'obtenir des images avec, d'une part, un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm (sur les derniers MEB-FEG), et d'autre part, une grande profondeur de champ.
La détection des signaux comprend la mesure de l'intensité des électrons secondaires émis et rétrodiffusés par l'échantillon, mais aussi l'analyse des photons X générés en fonction de leur énergie (EDS) ou de leur longueur d'onde (WDS), l'analyse des photons ultraviolet, visible et infrarouge avec la cathodoluminescence, l'analyse des directions suivant lesquelles diffractent les électrons rétrodiffusés (EBSD), qui vont nous donner, après traitement des données, des informations sur, la topographie, la composition chimique et/ou l'orientation cristallographique des matériaux... C'est aussi le traitement des données qui permet d'appréhender l'analyse d'échantillons stratifiés ou de reconstituer des images en 3 dimensions.
Ainsi, les multiples possibilités de détection et d'exploitation des signaux permettent à de nombreuses techniques annexes de se développer, en faisant du MEB un outil de première importance. |
| Note de contenu : |
iondex |
Microscopie électronique à balayage et Microanalyses et Miceroanlyses [texte imprimé] / BRISSET fraçois, Auteur . - Les Ulis (Essonne) : EDP sciences, 2008 . - 892 P. : ill.coll. Rouge ; 25 cm. ISBN : 978-2-7598-0082-7 : 126,67 € Éditeur : EDP Sciences (15 janvier 2009)
Langue : Français
Broché : 892 pages
ISBN-10 : 2759800822
ISBN-13 : 978-2759800827
Poids de l'article : 1.78 kg
Dimensions : 17 x 4.2 x 24.8 cm Langues : Français ( fre)
| Mots-clés : |
microscopie électronique balayage microanalyses optimisation optique électronique vide image en meb rayons x eds wds ebsd fib met anglesdistrsion |
| Index. décimale : |
535 |
| Résumé : |
La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques d'utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. A côté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse TKD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l'ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées. Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l'édition de 2008, aujourd'hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint-Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de micro-Analyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l'ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été et d'autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.
Extrait de l'introduction :
Laurent Maniguet, Monique Repoux, Jacky Ruste, Francine Roussel-Dherbey
La caractérisation poussée des matériaux est un besoin permanent dans de nombreux domaines et ce n'est pas le développement des méthodes de modélisation et de simulation numérique qui va totalement modifier cet état de fait. Il est en effet bien difficile de prévoir le comportement d'un matériau par un code de calcul sans avoir à introduire un certain nombre grandeurs physicochimiques adéquates, et la validation des résultats obtenus ne peut se faire pleinement sans une comparaison avec l'expérience...
Cette caractérisation, indispensable, peut être visuelle : état de surface, topographie, taille de grains des métaux, observation des défectuosités (fissurations, endommagements, fractures, etc.), porosité des céramiques, formes et répartition des charges dans les polymères, observation des nanomatériaux ou des cellules biologiques. Elle peut aussi être chimique : analyse locale de phases, d'inclusions, d'impuretés, ou encore cristallographique. Ce ne sont là que quelques exemples.
Depuis son apparition, le microscope électronique à balayage (MEB) s'est révélé être un puissant outil de caractérisation des matériaux, en particulier pour la topographie des surfaces. Si c'est avant tout un «microscope», c'est à dire un instrument d'observation, il prouve, on le verra tout au long de cet ouvrage, qu'il est bien plus encore ! Le terme «électronique» témoigne de l'utilisation d'électrons et celui de «balayage» rappelle que c'est au cours du déplacement du faisceau d'électrons sur la surface de l'échantillon que se construit l'image de l'échantillon sur l'écran de visualisation. Cette technique, fondée principalement sur la détection des signaux émergents d'une zone proche de la surface de l'échantillon sous l'impact d'un faisceau d'électrons, permet d'obtenir des images avec, d'une part, un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm (sur les derniers MEB-FEG), et d'autre part, une grande profondeur de champ.
La détection des signaux comprend la mesure de l'intensité des électrons secondaires émis et rétrodiffusés par l'échantillon, mais aussi l'analyse des photons X générés en fonction de leur énergie (EDS) ou de leur longueur d'onde (WDS), l'analyse des photons ultraviolet, visible et infrarouge avec la cathodoluminescence, l'analyse des directions suivant lesquelles diffractent les électrons rétrodiffusés (EBSD), qui vont nous donner, après traitement des données, des informations sur, la topographie, la composition chimique et/ou l'orientation cristallographique des matériaux... C'est aussi le traitement des données qui permet d'appréhender l'analyse d'échantillons stratifiés ou de reconstituer des images en 3 dimensions.
Ainsi, les multiples possibilités de détection et d'exploitation des signaux permettent à de nombreuses techniques annexes de se développer, en faisant du MEB un outil de première importance. |
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