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Chimie des solides / Jean-Francis Marucco
Titre : Chimie des solides Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Francis Marucco, Auteur Editeur : [Les Ulis] : EDP sciences Année de publication : DL 2004, cop. 2004. Importance : 1 vol. (XIII-565 p.) Présentation : fig., graph., couv. ill. en coul. Format : 24 *17cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-86883-673-1 Prix : 59 EUR Note générale : Editorial : EDP SCIENCES (22 Abril 2004)
Idioma: : Francés
ISBN-10 : 2868836739
ISBN-13 : 978-2868836731
Peso del producto : 2.03 pounds
Dimensiones : 6.3 x 1.22 x 9.45 pulgadasLangues : Français (fre) Mots-clés : Chimie des solides propriétés atomiques moléculaires ionisation orbitales affinité électronique électronégativité structures cristallines énergie réticulaire métaux et oxydes thermodynamique stœchiométriques dopage champ électrique conducteur et isolant électrochimie piles pouvoir thermoélectrique Index. décimale : 541 Résumé : Cet ouvrage a pour but de définir les bases de la chimie des solides.
Il est destiné aux étudiants des licences et mastères de chimie, chimie physique, sciences physiques et sciences des matériaux, ainsi qu'aux élèves des écoles d'ingénieurs en chimie. Il traite en particulier : - les structures cristallines, l'énergie réticulaire et ses implications ; -la structure électronique des composés binaires ; -la thermodynamique des solides et les réactions solides-gaz ; - les défauts ponctuels et la non-staschiométrie ; -les substitutions cationiques et le dopage ; -des notions de thermodynamique des phénomènes irréversibles ; - le transport de matière et la diffusion ; - le transport de charges et la conductivité électronique ; - le transport de matière chargée et la conductivité ionique ; - les piles et la réactivité chimique ; -le pouvoir thermoélectrique, les applications théoriques et pratiques. De nombreux exemples, figures et exercices permettent d'illustrer ces différents domaiNote de contenu : Bibliog.
indexChimie des solides [texte imprimé] / Jean-Francis Marucco, Auteur . - [Les Ulis] : EDP sciences, DL 2004, cop. 2004. . - 1 vol. (XIII-565 p.) : fig., graph., couv. ill. en coul. ; 24 *17cm.
ISBN : 978-2-86883-673-1 : 59 EUR
Editorial : EDP SCIENCES (22 Abril 2004)
Idioma: : Francés
ISBN-10 : 2868836739
ISBN-13 : 978-2868836731
Peso del producto : 2.03 pounds
Dimensiones : 6.3 x 1.22 x 9.45 pulgadas
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Chimie des solides propriétés atomiques moléculaires ionisation orbitales affinité électronique électronégativité structures cristallines énergie réticulaire métaux et oxydes thermodynamique stœchiométriques dopage champ électrique conducteur et isolant électrochimie piles pouvoir thermoélectrique Index. décimale : 541 Résumé : Cet ouvrage a pour but de définir les bases de la chimie des solides.
Il est destiné aux étudiants des licences et mastères de chimie, chimie physique, sciences physiques et sciences des matériaux, ainsi qu'aux élèves des écoles d'ingénieurs en chimie. Il traite en particulier : - les structures cristallines, l'énergie réticulaire et ses implications ; -la structure électronique des composés binaires ; -la thermodynamique des solides et les réactions solides-gaz ; - les défauts ponctuels et la non-staschiométrie ; -les substitutions cationiques et le dopage ; -des notions de thermodynamique des phénomènes irréversibles ; - le transport de matière et la diffusion ; - le transport de charges et la conductivité électronique ; - le transport de matière chargée et la conductivité ionique ; - les piles et la réactivité chimique ; -le pouvoir thermoélectrique, les applications théoriques et pratiques. De nombreux exemples, figures et exercices permettent d'illustrer ces différents domaiNote de contenu : Bibliog.
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Exemplaires (3)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST8491 541/205.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Exclu du prêt ST8492 541/205.2 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST8493 541/205.3 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible La cristallographie aux rayons X / William Clegg
Titre : La cristallographie aux rayons X Type de document : texte imprimé Auteurs : William Clegg, ; Julien Robert-Paganin (1988-....), Editeur : [Les Ulis] : EDP sciences Année de publication : DL 2018. Collection : Collection Enseignement sup. Chimie, ISSN 1953-2989. Importance : 1 vol. (VI-125 p.) Présentation : ill., couv. ill. en coul. Format : 24 *17cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-2110-5 Prix : 20 EUR Langues : Français (fre) Langues originales : Anglais (eng) Mots-clés : La cristallographie aux rayons X l'analogie de l’œil et du microscope l'état cristallin molécules intensités structure complexe chiral microcristaux d'un composé catalyse Index. décimale : 543 Chimie Physique Résumé : La 4e de couverture indique : "Ce livre a pour objectif d'apporter une initiation la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X aux étudiants en chimie. Il ria pas été con§u comme un manuel pratique pour les chercheurs du domaine. L'approche choisie est d'introduire les principes et les concepts fondamentaux, de montrer comment ils sont utilisés en pratique. et ensuite d'illustrer avec des cas concrets dans des études. Quelques sujets relatifs la cristallographie sont discutés dans le dernier chapitre."
Ce manuel propose une initiation aux principes, aux concepts et la pratique de la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X, illustrée de cas concrets d'études et accompagnée d'exercices. éElectre 2018.La cristallographie aux rayons X [texte imprimé] / William Clegg, ; Julien Robert-Paganin (1988-....), . - [Les Ulis] : EDP sciences, DL 2018. . - 1 vol. (VI-125 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 24 *17cm.. - (Collection Enseignement sup. Chimie, ISSN 1953-2989.) .
ISBN : 978-2-7598-2110-5 : 20 EUR
Langues : Français (fre) Langues originales : Anglais (eng)
Mots-clés : La cristallographie aux rayons X l'analogie de l’œil et du microscope l'état cristallin molécules intensités structure complexe chiral microcristaux d'un composé catalyse Index. décimale : 543 Chimie Physique Résumé : La 4e de couverture indique : "Ce livre a pour objectif d'apporter une initiation la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X aux étudiants en chimie. Il ria pas été con§u comme un manuel pratique pour les chercheurs du domaine. L'approche choisie est d'introduire les principes et les concepts fondamentaux, de montrer comment ils sont utilisés en pratique. et ensuite d'illustrer avec des cas concrets dans des études. Quelques sujets relatifs la cristallographie sont discutés dans le dernier chapitre."
Ce manuel propose une initiation aux principes, aux concepts et la pratique de la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X, illustrée de cas concrets d'études et accompagnée d'exercices. éElectre 2018.Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST9740 543/48.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Exclu du prêt Incertitudes de mesure Applications concrètes pour les étalonnages / Charki Abdérafi
Titre : Incertitudes de mesure Applications concrètes pour les étalonnages : tome 1 Type de document : texte imprimé Auteurs : Charki Abdérafi, Auteur ; denis louvel, Auteur ; éliane renaot ; andré michel ; teodor tiplica ; pré.georges bonnier, Auteur Editeur : [Les Ulis] : EDP sciences Année de publication : DL 2012 Collection : PROfil (Les Ulis), ISSN 2258-1804 Importance : 1 vol. (XI-136 p.) Présentation : ill., couv. ill. en coul. Format : 17x24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-0594-5 Prix : 59 EUR Note générale : Éditeur : EDP Sciences (22 mars 2012)
Langue : Français
Broché : 136 pages
ISBN-10 : 2759805948
ISBN-13 : 978-2759805945
Poids de l'article : 200 g
Dimensions : 16 x 0.8 x 24 cm
373 en Physique pour l'université
567 en Pharmacie pour l'université
2,600 en Physique et sciences de la matière (Livres)Langues : Français (fre) Mots-clés : étalonnage par comparaison de capteurs de température incertitude de mesure d'un poids mesure d'une balance laser les étalonnages Index. décimale : 621 Résumé : Les multiples besoins de la société moderne, basée sur la technologie, nécessitent d'effectuer toutes sortes de mesures. Tout résultat de mesure n'est en général qu'une estimation de la valeur de la quantité mesurée, la "vraie" valeur reste inconnue. L'estimation des incertitudes de mesure dans l'industrie ou dans les laboratoires est loin d'être maîtrisée de façon complète. Ce premier tome présente concrètement les procédures adaptées pour différentes mesures physiques : la thermométrie, le pesage et la mesure dimensionnelle. Les auteurs ont souhaité être pragmatiques et utiles dans leurs approches. Ainsi, chaque application peut servir de guide pour estimer l'incertitude de mesure d'un capteur thermométrique, d'un poids, d'une balance ou d'un interféromètre laser. Les parties sont suffisamment détaillées et justifiées de façon à ce que tous les lecteurs (enseignants, chercheurs, ingénieurs, techniciens, étudiants) puissent s'en inspirer pour déterminer une incertitude de mesure quel que soit le domaine de mesure.
Biographie de l'auteur
Ahdérafi Charki est enseignant-chercheur à l'Institut des Sciences et Techniques de l'Ingénieur d'Angers (ISTIA) (école d'ingénieurs de l'Université d'Angers). Il y enseigne la métrologie et la qualité. Sa recherche au sein du LASQUO (LAboratoire de Sûreté de fonctionnement, Qualité et Organisation) est axée sur la fiabilité de systèmes complexes. Il intervient également en tant qu'expert et évaluateur dans les laboratoires d'essais, d'analyses et d'étalonnages. Il est président du CAFM ET (Comité Africain de Métrologie). Il est par ailleurs éditeur en chef du journal "International Journal of Metrology and Quality Engineering". Denis Louvel travaille pour l'entreprise Mettler-Toledo où il a plusieurs responsabilités. Il anime aussi des formations en métrologie, et accompagne les entreprises dans l'évaluation et la définition des spécifications, des équipements et logiciels. Éliane Renaot est ingénieur au laboratoire commun de métrologie LNE-CNAM, membre de la Commission générale AFNOR "Métrologie dans l'entreprise", expert technique auprès du Comité Français d'Accréditation (COFRAC). André Michel a été responsable du centre d'étalonnage agréé en métrologie dimensionnelle du Centre Technique d'Arcueil (DCA). Il est actuellement évaluateur technique et qualité et membre de la commission Technique d'Accréditation Mécanique et Thermique de la section Laboratoires du COFRAC. Teodor Tiplica est enseignant-chercheur à l'Institut des Sciences et Techniques de l'Ingénieur d'Angers. Il est responsable, au sein du laboratoire LASQUO, d'une équipe de recherche axée sur l'évaluation, l'optimisation et la maîtrise des procédés.
sommaire:
étalonnage par comparaison de capteurs de température entre-80°c et 600°c
estimation de l'incertitude de mesure d'un poids
incertitude de mesure d'une balance
mesures dimensionnelles par interférométrie laser
Note de contenu : Notes bibliogr. Glossaire Incertitudes de mesure Applications concrètes pour les étalonnages : tome 1 [texte imprimé] / Charki Abdérafi, Auteur ; denis louvel, Auteur ; éliane renaot ; andré michel ; teodor tiplica ; pré.georges bonnier, Auteur . - [Les Ulis] : EDP sciences, DL 2012 . - 1 vol. (XI-136 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 17x24 cm. - (PROfil (Les Ulis), ISSN 2258-1804) .
ISBN : 978-2-7598-0594-5 : 59 EUR
Éditeur : EDP Sciences (22 mars 2012)
Langue : Français
Broché : 136 pages
ISBN-10 : 2759805948
ISBN-13 : 978-2759805945
Poids de l'article : 200 g
Dimensions : 16 x 0.8 x 24 cm
373 en Physique pour l'université
567 en Pharmacie pour l'université
2,600 en Physique et sciences de la matière (Livres)
Langues : Français (fre)
Mots-clés : étalonnage par comparaison de capteurs de température incertitude de mesure d'un poids mesure d'une balance laser les étalonnages Index. décimale : 621 Résumé : Les multiples besoins de la société moderne, basée sur la technologie, nécessitent d'effectuer toutes sortes de mesures. Tout résultat de mesure n'est en général qu'une estimation de la valeur de la quantité mesurée, la "vraie" valeur reste inconnue. L'estimation des incertitudes de mesure dans l'industrie ou dans les laboratoires est loin d'être maîtrisée de façon complète. Ce premier tome présente concrètement les procédures adaptées pour différentes mesures physiques : la thermométrie, le pesage et la mesure dimensionnelle. Les auteurs ont souhaité être pragmatiques et utiles dans leurs approches. Ainsi, chaque application peut servir de guide pour estimer l'incertitude de mesure d'un capteur thermométrique, d'un poids, d'une balance ou d'un interféromètre laser. Les parties sont suffisamment détaillées et justifiées de façon à ce que tous les lecteurs (enseignants, chercheurs, ingénieurs, techniciens, étudiants) puissent s'en inspirer pour déterminer une incertitude de mesure quel que soit le domaine de mesure.
Biographie de l'auteur
Ahdérafi Charki est enseignant-chercheur à l'Institut des Sciences et Techniques de l'Ingénieur d'Angers (ISTIA) (école d'ingénieurs de l'Université d'Angers). Il y enseigne la métrologie et la qualité. Sa recherche au sein du LASQUO (LAboratoire de Sûreté de fonctionnement, Qualité et Organisation) est axée sur la fiabilité de systèmes complexes. Il intervient également en tant qu'expert et évaluateur dans les laboratoires d'essais, d'analyses et d'étalonnages. Il est président du CAFM ET (Comité Africain de Métrologie). Il est par ailleurs éditeur en chef du journal "International Journal of Metrology and Quality Engineering". Denis Louvel travaille pour l'entreprise Mettler-Toledo où il a plusieurs responsabilités. Il anime aussi des formations en métrologie, et accompagne les entreprises dans l'évaluation et la définition des spécifications, des équipements et logiciels. Éliane Renaot est ingénieur au laboratoire commun de métrologie LNE-CNAM, membre de la Commission générale AFNOR "Métrologie dans l'entreprise", expert technique auprès du Comité Français d'Accréditation (COFRAC). André Michel a été responsable du centre d'étalonnage agréé en métrologie dimensionnelle du Centre Technique d'Arcueil (DCA). Il est actuellement évaluateur technique et qualité et membre de la commission Technique d'Accréditation Mécanique et Thermique de la section Laboratoires du COFRAC. Teodor Tiplica est enseignant-chercheur à l'Institut des Sciences et Techniques de l'Ingénieur d'Angers. Il est responsable, au sein du laboratoire LASQUO, d'une équipe de recherche axée sur l'évaluation, l'optimisation et la maîtrise des procédés.
sommaire:
étalonnage par comparaison de capteurs de température entre-80°c et 600°c
estimation de l'incertitude de mesure d'un poids
incertitude de mesure d'une balance
mesures dimensionnelles par interférométrie laser
Note de contenu : Notes bibliogr. Glossaire Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST12368 621/67.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Exclu du prêt