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2. Electrotechnique Appliquée / J. Loubignac
Titre : Electrotechnique Appliquée : Mesures électriques en courant continu et en régimes transitoires Type de document : document électronique Auteurs : J. Loubignac, Acteur ; J. Loubignac, Acteur Mention d'édition : 3e édition Editeur : [Paris] : Dunod Année de publication : 1967 Importance : vol. 2 (249 p.) Présentation : ill.fig., couv. ill.coul. bleu Format : 24 cm Note générale : Titre Électrotechnique appliquée: Mesures électriques en courant continu et en régimes transitoires T2
Auteur P. Roberjot
Édition 3
Éditeur Dunod, 1967
Longueur 249 pagesLangues : Français (fre) Mots-clés : laboratoire de mesures méthodes de mesure calcul d'incertitude étalons de mesures galvanomètre à cadre mobile mesures des résistances pont de wheatston mesure des faibles et des grandes résistances mesure de l'isolement des installations galvanomètres électrolytes piles accumulateurs prises de terre forces électromotrices potentiel intensités potentiomètres puissance mesures des capacités mesures des inductances grandeurs magnétiques Index. décimale : 621.3 Résumé : Sommaire :
organisation d'un laboratoire de mesures
méthodes de mesure-calcul d'incertitude
étalons de mesures matériel de laboratoire étalonné
galvanomètre à cadre mobile appareils dérivés
mesures des résistances pont de wheatston
mesure des faibles et des grandes résistances
mesure de l'isolement des installations
méthodes spéciales galvanomètres-électrolytes piles et accumulateurs
localisation des défauts des lignes mesure de la résistance des prises de terre
mesure des forces électromotrices des différences de potentiel et des intensités
potentiomètres
mesure de la puissance et de l'énergie
mesures des capacités
mesures des inductances
mesure des grandeurs magnétiquesNote de contenu : symboles de grandeurs utilisés Electrotechnique Appliquée : Mesures électriques en courant continu et en régimes transitoires [document électronique] / J. Loubignac, Acteur ; J. Loubignac, Acteur . - 3e édition . - [Paris] : Dunod, 1967 . - vol. 2 (249 p.) : ill.fig., couv. ill.coul. bleu ; 24 cm.
Titre Électrotechnique appliquée: Mesures électriques en courant continu et en régimes transitoires T2
Auteur P. Roberjot
Édition 3
Éditeur Dunod, 1967
Longueur 249 pages
Langues : Français (fre)
Mots-clés : laboratoire de mesures méthodes de mesure calcul d'incertitude étalons de mesures galvanomètre à cadre mobile mesures des résistances pont de wheatston mesure des faibles et des grandes résistances mesure de l'isolement des installations galvanomètres électrolytes piles accumulateurs prises de terre forces électromotrices potentiel intensités potentiomètres puissance mesures des capacités mesures des inductances grandeurs magnétiques Index. décimale : 621.3 Résumé : Sommaire :
organisation d'un laboratoire de mesures
méthodes de mesure-calcul d'incertitude
étalons de mesures matériel de laboratoire étalonné
galvanomètre à cadre mobile appareils dérivés
mesures des résistances pont de wheatston
mesure des faibles et des grandes résistances
mesure de l'isolement des installations
méthodes spéciales galvanomètres-électrolytes piles et accumulateurs
localisation des défauts des lignes mesure de la résistance des prises de terre
mesure des forces électromotrices des différences de potentiel et des intensités
potentiomètres
mesure de la puissance et de l'énergie
mesures des capacités
mesures des inductances
mesure des grandeurs magnétiquesNote de contenu : symboles de grandeurs utilisés Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST12899 621.3/220.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Exclu du prêt La cristallographie aux rayons X / William Clegg
Titre : La cristallographie aux rayons X Type de document : texte imprimé Auteurs : William Clegg, ; Julien Robert-Paganin (1988-....), Editeur : [Les Ulis] : EDP sciences Année de publication : DL 2018. Collection : Collection Enseignement sup. Chimie, ISSN 1953-2989. Importance : 1 vol. (VI-125 p.) Présentation : ill., couv. ill. en coul. Format : 24 *17cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-2110-5 Prix : 20 EUR Langues : Français (fre) Langues originales : Anglais (eng) Mots-clés : La cristallographie aux rayons X l'analogie de l’œil et du microscope l'état cristallin molécules intensités structure complexe chiral microcristaux d'un composé catalyse Index. décimale : 543 Chimie Physique Résumé : La 4e de couverture indique : "Ce livre a pour objectif d'apporter une initiation la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X aux étudiants en chimie. Il ria pas été con§u comme un manuel pratique pour les chercheurs du domaine. L'approche choisie est d'introduire les principes et les concepts fondamentaux, de montrer comment ils sont utilisés en pratique. et ensuite d'illustrer avec des cas concrets dans des études. Quelques sujets relatifs la cristallographie sont discutés dans le dernier chapitre."
Ce manuel propose une initiation aux principes, aux concepts et la pratique de la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X, illustrée de cas concrets d'études et accompagnée d'exercices. éElectre 2018.La cristallographie aux rayons X [texte imprimé] / William Clegg, ; Julien Robert-Paganin (1988-....), . - [Les Ulis] : EDP sciences, DL 2018. . - 1 vol. (VI-125 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 24 *17cm.. - (Collection Enseignement sup. Chimie, ISSN 1953-2989.) .
ISBN : 978-2-7598-2110-5 : 20 EUR
Langues : Français (fre) Langues originales : Anglais (eng)
Mots-clés : La cristallographie aux rayons X l'analogie de l’œil et du microscope l'état cristallin molécules intensités structure complexe chiral microcristaux d'un composé catalyse Index. décimale : 543 Chimie Physique Résumé : La 4e de couverture indique : "Ce livre a pour objectif d'apporter une initiation la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X aux étudiants en chimie. Il ria pas été con§u comme un manuel pratique pour les chercheurs du domaine. L'approche choisie est d'introduire les principes et les concepts fondamentaux, de montrer comment ils sont utilisés en pratique. et ensuite d'illustrer avec des cas concrets dans des études. Quelques sujets relatifs la cristallographie sont discutés dans le dernier chapitre."
Ce manuel propose une initiation aux principes, aux concepts et la pratique de la technique de résolution de structure par cristallographie aux rayons X, illustrée de cas concrets d'études et accompagnée d'exercices. éElectre 2018.Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST9740 543/48.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Exclu du prêt