الفهرس الالي لمكتبة كلية العلوم و علوم التكنولوجيا
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MÉTHODES AVANCÉES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES / DAVID,DANIEL
Titre : MÉTHODES AVANCÉES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES Type de document : texte imprimé Auteurs : DAVID,DANIEL, Auteur Editeur : Paris : Eyrolles Année de publication : 1993 Importance : 277P. Format : 17X24CM. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-212-02604-7 Note générale : Éditeur : Eyrolles (1 novembre 1991)
Langue : Français
Broché : 277 pages
ISBN-10 : 2212026048
ISBN-13 : 978-2212026047
Poids de l'article : 454 g
Dimensions : 15.5 x 1.5 x 24 cmLangues : Français (fre) Mots-clés : MÉTHODES AVANCÉES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES les applications analytiques du laser le rayonnement synchrotron techniques de développement récent problèmes spécifiques lies a la nature des matériaux Index. décimale : 624.1 Résumé : SOMMAIRE:
LES APPLICATION ANALYTIQUES DU LASER
LES MéCANISMES DE L'IONISATION LASER
IDENTIFICATION DES SUBSTANCES INORGANIQUES ET ORGANIQUES EN SURFACE DES SOLIDES PAR LA MICROSONDE LASER
LES TRAITEMENTS THERMIQUES ET MéCANIQUES SOUS FAISCEAU LASER A.VANNES
LE RAYONNEMENT SYNCHROTRON
LE RAYONNEMENT SYNCHROTRON EN FRANCE:UTILISATION POUR L'éTUDE DES SURFACES
LA SPECTROSCOPIE D'ABSORPTION X:UN OUTIL POUR éTUDIER LES SURFACES ET LES INTERFACES
UTILISATION DES RAYONS X EN INCIDENCE RASANTE POUR L'éTUDE DES SURFACES
TECHNIQUES DE DEVELOPPEMENT RECENT
LA MICROSCOPIE ACOUSTIQUE:QUELQUES ASPECTS DE SON UTILISATION
LA MICROSONDE NUCLéAIRE
LA SPECTROSCOPIE DE PERTES D'éNERGIE D'éLECTRONS
PROBLEMES SPECIFIQUES LIES A LA NATURE DES MATERIAUX
ROLE DES SURFACES DIéLECTRIQUES DANS LES PHéNOMéNES D'adhérence,de claquage et de fracture
biomatériaux et biocomptabilité
matériaux supranconducteurs
les multimatériaux:caractérisation des surfaces et des interfacesMÉTHODES AVANCÉES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES [texte imprimé] / DAVID,DANIEL, Auteur . - Paris : Eyrolles, 1993 . - 277P. ; 17X24CM.
ISBN : 978-2-212-02604-7
Éditeur : Eyrolles (1 novembre 1991)
Langue : Français
Broché : 277 pages
ISBN-10 : 2212026048
ISBN-13 : 978-2212026047
Poids de l'article : 454 g
Dimensions : 15.5 x 1.5 x 24 cm
Langues : Français (fre)
Mots-clés : MÉTHODES AVANCÉES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES les applications analytiques du laser le rayonnement synchrotron techniques de développement récent problèmes spécifiques lies a la nature des matériaux Index. décimale : 624.1 Résumé : SOMMAIRE:
LES APPLICATION ANALYTIQUES DU LASER
LES MéCANISMES DE L'IONISATION LASER
IDENTIFICATION DES SUBSTANCES INORGANIQUES ET ORGANIQUES EN SURFACE DES SOLIDES PAR LA MICROSONDE LASER
LES TRAITEMENTS THERMIQUES ET MéCANIQUES SOUS FAISCEAU LASER A.VANNES
LE RAYONNEMENT SYNCHROTRON
LE RAYONNEMENT SYNCHROTRON EN FRANCE:UTILISATION POUR L'éTUDE DES SURFACES
LA SPECTROSCOPIE D'ABSORPTION X:UN OUTIL POUR éTUDIER LES SURFACES ET LES INTERFACES
UTILISATION DES RAYONS X EN INCIDENCE RASANTE POUR L'éTUDE DES SURFACES
TECHNIQUES DE DEVELOPPEMENT RECENT
LA MICROSCOPIE ACOUSTIQUE:QUELQUES ASPECTS DE SON UTILISATION
LA MICROSONDE NUCLéAIRE
LA SPECTROSCOPIE DE PERTES D'éNERGIE D'éLECTRONS
PROBLEMES SPECIFIQUES LIES A LA NATURE DES MATERIAUX
ROLE DES SURFACES DIéLECTRIQUES DANS LES PHéNOMéNES D'adhérence,de claquage et de fracture
biomatériaux et biocomptabilité
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST17090 624.1/110.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Exclu du prêt ST17091 624.1/110.2 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Disponible ST17092 624.1/110.3 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Disponible MÉTHODES USUELLES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES / DAVID,DANIEL
Titre : MÉTHODES USUELLES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES Type de document : texte imprimé Auteurs : DAVID,DANIEL, Auteur ; CAPLAIN,RENAUD, Auteur Editeur : Paris : Eyrolles Année de publication : 1988 Importance : 374 pages Format : 24 X 15 cm Note générale : Éditeur : Eyrolles (1 mai 1988)
Langue : Français
ISBN-10 : 2212025823
ISBN-13 : 978-2212025828
Poids de l'article : 680 gLangues : Français (fre) Mots-clés : MÉTHODES USUELLES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES les surfaces métallurgie les méthodes physicochimiques spectroscopie de photo électrons la spectrométrie Raman application des études de corrosion méthodes électrochimiques Index. décimale : 624.1 Résumé : SOMMAIRE:
LES SURFACES EN METALLURGIE
-LA NOTION DE SURFACE
-PROPRI2TES INTRINS2QUES ET FONCTIONNELLES DES SURFACES
PRéPARATIONS ET TRAITEMENTS
LES MéTHODES PHYSICOCHIMIQUES
MéTHODES CLASSIQUES:MICROSONDE éLECTRONIQUE
SPECTROSCOPIE D'éLECTRONS AUGER
SPECTROSCOPIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES(sims)
spectroscopie à décharge luminescente(SDL)
LA SPECTROM2TRIE RAMAN.APPLICATION AUX éTUDES
MéTHODES éLECTROCHIMIQUES
MICRONALYSE NUCLéAIRE
ELLIPSOMéTRIE
LA MICROSONDE à IMPACT LASER(lamma)
REVUE CRITIQUE
LES METHODES STRUCTURALES ET MECANIQUES
DIFFRACTION X
MICROSCOPIE éLECTRONIQUE à BALAYAGE ET DIFFRACTION éLECTRONIQUE EN RéFLEXION
MICROSCOPIE éLECTRONIQUE EN TRANSMISSION ET DIFFRACTION DES éLECTRONS
LA MICROSCOPIE éLECTRONIQUE à PHOTOéMISSION
MéTHODES LEED ET RHEED
MESURES DES CONTRAINTES
MICROGéOMéTRIE ET RUGOSIMéTRIE
MESURE DES SURFACES SPéCIFIQUES
MESURE D'ADHéRENCE
PERSPECTIVES DE L'ANALYSE DES SURFACES
CARACTéRISATION MéCANIQUE
APPROCHE FRACTALE DES SURFACES ET IMPLICATIONS ANALYTIQUES
LE MICROSCOPIE à EFFET TUNNEL
CONCLUSIONNote de contenu : BIBLIOGRAPHIE MÉTHODES USUELLES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES [texte imprimé] / DAVID,DANIEL, Auteur ; CAPLAIN,RENAUD, Auteur . - Paris : Eyrolles, 1988 . - 374 pages ; 24 X 15 cm.
Éditeur : Eyrolles (1 mai 1988)
Langue : Français
ISBN-10 : 2212025823
ISBN-13 : 978-2212025828
Poids de l'article : 680 g
Langues : Français (fre)
Mots-clés : MÉTHODES USUELLES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES les surfaces métallurgie les méthodes physicochimiques spectroscopie de photo électrons la spectrométrie Raman application des études de corrosion méthodes électrochimiques Index. décimale : 624.1 Résumé : SOMMAIRE:
LES SURFACES EN METALLURGIE
-LA NOTION DE SURFACE
-PROPRI2TES INTRINS2QUES ET FONCTIONNELLES DES SURFACES
PRéPARATIONS ET TRAITEMENTS
LES MéTHODES PHYSICOCHIMIQUES
MéTHODES CLASSIQUES:MICROSONDE éLECTRONIQUE
SPECTROSCOPIE D'éLECTRONS AUGER
SPECTROSCOPIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES(sims)
spectroscopie à décharge luminescente(SDL)
LA SPECTROM2TRIE RAMAN.APPLICATION AUX éTUDES
MéTHODES éLECTROCHIMIQUES
MICRONALYSE NUCLéAIRE
ELLIPSOMéTRIE
LA MICROSONDE à IMPACT LASER(lamma)
REVUE CRITIQUE
LES METHODES STRUCTURALES ET MECANIQUES
DIFFRACTION X
MICROSCOPIE éLECTRONIQUE à BALAYAGE ET DIFFRACTION éLECTRONIQUE EN RéFLEXION
MICROSCOPIE éLECTRONIQUE EN TRANSMISSION ET DIFFRACTION DES éLECTRONS
LA MICROSCOPIE éLECTRONIQUE à PHOTOéMISSION
MéTHODES LEED ET RHEED
MESURES DES CONTRAINTES
MICROGéOMéTRIE ET RUGOSIMéTRIE
MESURE DES SURFACES SPéCIFIQUES
MESURE D'ADHéRENCE
PERSPECTIVES DE L'ANALYSE DES SURFACES
CARACTéRISATION MéCANIQUE
APPROCHE FRACTALE DES SURFACES ET IMPLICATIONS ANALYTIQUES
LE MICROSCOPIE à EFFET TUNNEL
CONCLUSIONNote de contenu : BIBLIOGRAPHIE Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST17096 624.1/112.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Exclu du prêt ST17097 624.1/112.2 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Disponible ST17098 624.1/112.3 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 600 - Technologie (Sciences appliquées) Disponible