الفهرس الالي لمكتبة كلية العلوم و علوم التكنولوجيا
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Titre : |
MÉTHODES USUELLES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES |
Type de document : |
texte imprimé |
Auteurs : |
DAVID,DANIEL, Auteur ; CAPLAIN,RENAUD, Auteur |
Editeur : |
Paris : Eyrolles |
Année de publication : |
1988 |
Importance : |
374 pages |
Format : |
24 X 15 cm |
Note générale : |
Éditeur : Eyrolles (1 mai 1988)
Langue : Français
ISBN-10 : 2212025823
ISBN-13 : 978-2212025828
Poids de l'article : 680 g |
Langues : |
Français (fre) |
Mots-clés : |
MÉTHODES USUELLES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES les surfaces métallurgie les méthodes physicochimiques spectroscopie de photo électrons la spectrométrie Raman application des études de corrosion méthodes électrochimiques |
Index. décimale : |
624.1 |
Résumé : |
SOMMAIRE:
LES SURFACES EN METALLURGIE
-LA NOTION DE SURFACE
-PROPRI2TES INTRINS2QUES ET FONCTIONNELLES DES SURFACES
PRéPARATIONS ET TRAITEMENTS
LES MéTHODES PHYSICOCHIMIQUES
MéTHODES CLASSIQUES:MICROSONDE éLECTRONIQUE
SPECTROSCOPIE D'éLECTRONS AUGER
SPECTROSCOPIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES(sims)
spectroscopie à décharge luminescente(SDL)
LA SPECTROM2TRIE RAMAN.APPLICATION AUX éTUDES
MéTHODES éLECTROCHIMIQUES
MICRONALYSE NUCLéAIRE
ELLIPSOMéTRIE
LA MICROSONDE à IMPACT LASER(lamma)
REVUE CRITIQUE
LES METHODES STRUCTURALES ET MECANIQUES
DIFFRACTION X
MICROSCOPIE éLECTRONIQUE à BALAYAGE ET DIFFRACTION éLECTRONIQUE EN RéFLEXION
MICROSCOPIE éLECTRONIQUE EN TRANSMISSION ET DIFFRACTION DES éLECTRONS
LA MICROSCOPIE éLECTRONIQUE à PHOTOéMISSION
MéTHODES LEED ET RHEED
MESURES DES CONTRAINTES
MICROGéOMéTRIE ET RUGOSIMéTRIE
MESURE DES SURFACES SPéCIFIQUES
MESURE D'ADHéRENCE
PERSPECTIVES DE L'ANALYSE DES SURFACES
CARACTéRISATION MéCANIQUE
APPROCHE FRACTALE DES SURFACES ET IMPLICATIONS ANALYTIQUES
LE MICROSCOPIE à EFFET TUNNEL
CONCLUSION |
Note de contenu : |
BIBLIOGRAPHIE |
MÉTHODES USUELLES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES [texte imprimé] / DAVID,DANIEL, Auteur ; CAPLAIN,RENAUD, Auteur . - Paris : Eyrolles, 1988 . - 374 pages ; 24 X 15 cm. Éditeur : Eyrolles (1 mai 1988)
Langue : Français
ISBN-10 : 2212025823
ISBN-13 : 978-2212025828
Poids de l'article : 680 g Langues : Français ( fre)
Mots-clés : |
MÉTHODES USUELLES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES les surfaces métallurgie les méthodes physicochimiques spectroscopie de photo électrons la spectrométrie Raman application des études de corrosion méthodes électrochimiques |
Index. décimale : |
624.1 |
Résumé : |
SOMMAIRE:
LES SURFACES EN METALLURGIE
-LA NOTION DE SURFACE
-PROPRI2TES INTRINS2QUES ET FONCTIONNELLES DES SURFACES
PRéPARATIONS ET TRAITEMENTS
LES MéTHODES PHYSICOCHIMIQUES
MéTHODES CLASSIQUES:MICROSONDE éLECTRONIQUE
SPECTROSCOPIE D'éLECTRONS AUGER
SPECTROSCOPIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES(sims)
spectroscopie à décharge luminescente(SDL)
LA SPECTROM2TRIE RAMAN.APPLICATION AUX éTUDES
MéTHODES éLECTROCHIMIQUES
MICRONALYSE NUCLéAIRE
ELLIPSOMéTRIE
LA MICROSONDE à IMPACT LASER(lamma)
REVUE CRITIQUE
LES METHODES STRUCTURALES ET MECANIQUES
DIFFRACTION X
MICROSCOPIE éLECTRONIQUE à BALAYAGE ET DIFFRACTION éLECTRONIQUE EN RéFLEXION
MICROSCOPIE éLECTRONIQUE EN TRANSMISSION ET DIFFRACTION DES éLECTRONS
LA MICROSCOPIE éLECTRONIQUE à PHOTOéMISSION
MéTHODES LEED ET RHEED
MESURES DES CONTRAINTES
MICROGéOMéTRIE ET RUGOSIMéTRIE
MESURE DES SURFACES SPéCIFIQUES
MESURE D'ADHéRENCE
PERSPECTIVES DE L'ANALYSE DES SURFACES
CARACTéRISATION MéCANIQUE
APPROCHE FRACTALE DES SURFACES ET IMPLICATIONS ANALYTIQUES
LE MICROSCOPIE à EFFET TUNNEL
CONCLUSION |
Note de contenu : |
BIBLIOGRAPHIE |
|
Réservation
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Exemplaires (3)
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ST17096 | 624.1/112.1 | Ouvrage | Faculté des Sciences et de la Technologie | 600 - Technologie (Sciences appliquées) | Exclu du prêt |
ST17097 | 624.1/112.2 | Ouvrage | Faculté des Sciences et de la Technologie | 600 - Technologie (Sciences appliquées) | Disponible |
ST17098 | 624.1/112.3 | Ouvrage | Faculté des Sciences et de la Technologie | 600 - Technologie (Sciences appliquées) | Disponible |