الفهرس الالي لمكتبة كلية العلوم و علوم التكنولوجيا
MÉTHODES AVANCÉES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES / DAVID,DANIEL
MÉTHODES AVANCÉES DE CARACTÉRISATION DES SURFACES [texte imprimé] / DAVID,DANIEL, Auteur . - Paris : Eyrolles, 1993 . - 277P. ; 17X24CM. ISBN : 978-2-212-02604-7 Éditeur : Eyrolles (1 novembre 1991) Langue : Français Broché : 277 pages ISBN-10 : 2212026048 ISBN-13 : 978-2212026047 Poids de l'article : 454 g Dimensions : 15.5 x 1.5 x 24 cm Langues : Français (fre)
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Réservation
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Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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ST17090 | 624.1/110.1 | Ouvrage | Faculté des Sciences et de la Technologie | 600 - Technologie (Sciences appliquées) | Exclu du prêt |
ST17091 | 624.1/110.2 | Ouvrage | Faculté des Sciences et de la Technologie | 600 - Technologie (Sciences appliquées) | Disponible |
ST17092 | 624.1/110.3 | Ouvrage | Faculté des Sciences et de la Technologie | 600 - Technologie (Sciences appliquées) | Disponible |