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Analyse structurale et chimique des matériaux / Jean-Pierre Eberhart
Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux Type de document : texte imprimé Auteurs : Jean-Pierre Eberhart, Auteur Mention d'édition : [Nouv. éd.] Editeur : Paris : Dunod Année de publication : 1997 Collection : Sciences sup, ISSN 1636-2217 Importance : IV-614 p. Présentation : ill., couv. ill. en coul. Format : 24 cm 17 ISBN/ISSN/EAN : 978-2-10-003367-6 Prix : 435 F Note générale : La couv. porte en plus : "2e cycle universitaire, écoles d'ingénieurs"
Bibliogr. p. 597-603. Notes bibliogr. IndexLangues : Français (fre) Mots-clés : Analyse structurale et chimique des matériaux rayonnement-matière atome cristal électrons neutrons thermiques ions détecteurs spectromètres microscopie électronique grandeurs Index. décimale : 543 Chimie Physique Résumé : 'industrie a des besoins croissants en matériaux performants à caractéristiques bien définies. Ces besoins ont suscité le développement de méthodes d'étude et de contrôle de plus en plus sophistiquées, basées sur l'interaction de divers rayonnements avec la matière. Une bonne connaissance de ces méthodes est indispensable aux chercheurs qui étudient les matériaux, aux ingénieurs et techniciens chargés de leur mise au point, de leur fabrication et de leur contrôle. Cet ouvrage traite de façon cohérente et accessible à des non-spécialistes les bases théoriques et la pratique des techniques les plus importantes utilisant les rayons X, les électrons, les neutrons, les ions.
Illustré de nombreux schémas et photographies, complété par une abondante bibliographe, ce livre intéresse tout lecteur concerné par les matériaux : enseignants et étudiants des deuxième et troisième cycles universitaires et des écoles d'ingénieurs (spécialités physique, chimie, sciences de la Terre, instrumentation), chercheurs, ingénieurs et techniciens des laboratoires universitaires, publics et industriels (matériaux artificiels et naturels, physique et chimie du solide, sciences de la Terre, instrumentation scientifique...).sommaire:intéaction rayonnements-matiére.aspects théoriques-notions générales sur les rayonnements et la matiére-notions générales sur l'interaction des rayonnements avec la matiére-diffusion cohérente des rayonnements des rayonnements avec la matiére-diffusion cohéerente des rayonnements par la matiére-diffusion des rayonnements par un atome.amplitude de diffusion atomique-diffraction des rayonnements par un cristal-théorie élémentaire de la diffraction des électrons-émission de rayonnements secondaires-absorption des rayonnements dans un matériau-techniques de production et de mesure des rayonnements-techniques de production et de mesure des rayonnements-techniques de production et de mesure des rayonnements-techniques de production et de mesure des rayonnements-techniques de production et de mesure des rayonnements-techniques de production des rayons x.électrons,neutrons thermiques et ions-détection et mesure des rayonnements.détecteurs et spectrométres-applications de diffractions des rayonnements à l'étude des matériaux des matériaux cristallisés-diffraction des électrons appliquée à l'étude de couches minces cristallines-applications de la soectrométrie des rayons x.des électrons et des ions secondaires-données de spectrométrie-analyse élémentaire par spectrométrie de fluroescence x-micronoanalyse élémebtaire par sonde électronique-analyse des surfaces par spectrométrie d'émission des photoélectrons et éléctrons auger-spectrométrie d'absorption des rayons x et de perte d'énergie des électrons-analyse des surfaces par spectrométrie d'émission d'ions secondaires-techniques de microscopie électronique-microscopie électronique à transmission-microscopie électronique à balayage-microscopie électronique à balayage en transmission.microscopie électronique analytique-microscopie électronique à effet tunnelNote de contenu : Éditeur : Dunod; Nouvelle édition (18 février 1997)
Langue : Français
Broché : 611 pages
ISBN-10 : 2100033670
ISBN-13 : 978-2100033676
Poids de l'article : 1.04 kg
Dimensions : 24 x 17 x 3.5 cmAnalyse structurale et chimique des matériaux [texte imprimé] / Jean-Pierre Eberhart, Auteur . - [Nouv. éd.] . - Paris : Dunod, 1997 . - IV-614 p. : ill., couv. ill. en coul. ; 24 cm 17. - (Sciences sup, ISSN 1636-2217) .
ISBN : 978-2-10-003367-6 : 435 F
La couv. porte en plus : "2e cycle universitaire, écoles d'ingénieurs"
Bibliogr. p. 597-603. Notes bibliogr. Index
Langues : Français (fre)
Mots-clés : Analyse structurale et chimique des matériaux rayonnement-matière atome cristal électrons neutrons thermiques ions détecteurs spectromètres microscopie électronique grandeurs Index. décimale : 543 Chimie Physique Résumé : 'industrie a des besoins croissants en matériaux performants à caractéristiques bien définies. Ces besoins ont suscité le développement de méthodes d'étude et de contrôle de plus en plus sophistiquées, basées sur l'interaction de divers rayonnements avec la matière. Une bonne connaissance de ces méthodes est indispensable aux chercheurs qui étudient les matériaux, aux ingénieurs et techniciens chargés de leur mise au point, de leur fabrication et de leur contrôle. Cet ouvrage traite de façon cohérente et accessible à des non-spécialistes les bases théoriques et la pratique des techniques les plus importantes utilisant les rayons X, les électrons, les neutrons, les ions.
Illustré de nombreux schémas et photographies, complété par une abondante bibliographe, ce livre intéresse tout lecteur concerné par les matériaux : enseignants et étudiants des deuxième et troisième cycles universitaires et des écoles d'ingénieurs (spécialités physique, chimie, sciences de la Terre, instrumentation), chercheurs, ingénieurs et techniciens des laboratoires universitaires, publics et industriels (matériaux artificiels et naturels, physique et chimie du solide, sciences de la Terre, instrumentation scientifique...).sommaire:intéaction rayonnements-matiére.aspects théoriques-notions générales sur les rayonnements et la matiére-notions générales sur l'interaction des rayonnements avec la matiére-diffusion cohérente des rayonnements des rayonnements avec la matiére-diffusion cohéerente des rayonnements par la matiére-diffusion des rayonnements par un atome.amplitude de diffusion atomique-diffraction des rayonnements par un cristal-théorie élémentaire de la diffraction des électrons-émission de rayonnements secondaires-absorption des rayonnements dans un matériau-techniques de production et de mesure des rayonnements-techniques de production et de mesure des rayonnements-techniques de production et de mesure des rayonnements-techniques de production et de mesure des rayonnements-techniques de production et de mesure des rayonnements-techniques de production des rayons x.électrons,neutrons thermiques et ions-détection et mesure des rayonnements.détecteurs et spectrométres-applications de diffractions des rayonnements à l'étude des matériaux des matériaux cristallisés-diffraction des électrons appliquée à l'étude de couches minces cristallines-applications de la soectrométrie des rayons x.des électrons et des ions secondaires-données de spectrométrie-analyse élémentaire par spectrométrie de fluroescence x-micronoanalyse élémebtaire par sonde électronique-analyse des surfaces par spectrométrie d'émission des photoélectrons et éléctrons auger-spectrométrie d'absorption des rayons x et de perte d'énergie des électrons-analyse des surfaces par spectrométrie d'émission d'ions secondaires-techniques de microscopie électronique-microscopie électronique à transmission-microscopie électronique à balayage-microscopie électronique à balayage en transmission.microscopie électronique analytique-microscopie électronique à effet tunnelNote de contenu : Éditeur : Dunod; Nouvelle édition (18 février 1997)
Langue : Français
Broché : 611 pages
ISBN-10 : 2100033670
ISBN-13 : 978-2100033676
Poids de l'article : 1.04 kg
Dimensions : 24 x 17 x 3.5 cmRéservation
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