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ELEMENTS DE RADIOCRISTALLOGRAPHIE / R.Ouahes
Titre : ELEMENTS DE RADIOCRISTALLOGRAPHIE Type de document : texte imprimé Auteurs : R.Ouahes, Auteur Editeur : Alger : office des publications universitaires Année de publication : 1995 Importance : 240 P. Format : 25*20CM ISBN/ISSN/EAN : 978-9961-0-0023-6 Langues : Français (fre) Mots-clés : ÉLÉMENTS DE RADIOCRISTALLOGRAPHIE réseau ponctuel cristallin rayons x phénomène de diffraction détermination de la géométrie résolution des structures mesures des intensités Index. décimale : 543 Chimie Physique Résumé : votre livre est présente avec beaucoup de gout et d’efficacité-et vous traitez-en peu de place-des questions essentielles ÉLÉMENTS DE RADIOCRISTALLOGRAPHIE-réseau ponctuel-cristallin-rayons x-phénomène de diffraction-détermination de la géométrie-résolution des structures-mesures des intensités-cristallographie geometrique-les rayons x et le phenomene de fiffraction-determination de la geometrie cristalline-etudes prealables a la resolution des structures-les methodes de resolution-le reseau ponctuel-symetrie du reseau cristallin-etude de la diffraction des rayons x-la methode des poudres-les methodes du cristal unique-les etudes preliminaires-mesure des intensites-correction des intensites-introduction aux methodes de resolution-les methodes physiques-les methodes mathematiques ou methodes directes-affinement et description de la structure ELEMENTS DE RADIOCRISTALLOGRAPHIE [texte imprimé] / R.Ouahes, Auteur . - Algérié : Alger : office des publications universitaires, 1995 . - 240 P. ; 25*20CM.
ISBN : 978-9961-0-0023-6
Langues : Français (fre)
Mots-clés : ÉLÉMENTS DE RADIOCRISTALLOGRAPHIE réseau ponctuel cristallin rayons x phénomène de diffraction détermination de la géométrie résolution des structures mesures des intensités Index. décimale : 543 Chimie Physique Résumé : votre livre est présente avec beaucoup de gout et d’efficacité-et vous traitez-en peu de place-des questions essentielles ÉLÉMENTS DE RADIOCRISTALLOGRAPHIE-réseau ponctuel-cristallin-rayons x-phénomène de diffraction-détermination de la géométrie-résolution des structures-mesures des intensités-cristallographie geometrique-les rayons x et le phenomene de fiffraction-determination de la geometrie cristalline-etudes prealables a la resolution des structures-les methodes de resolution-le reseau ponctuel-symetrie du reseau cristallin-etude de la diffraction des rayons x-la methode des poudres-les methodes du cristal unique-les etudes preliminaires-mesure des intensites-correction des intensites-introduction aux methodes de resolution-les methodes physiques-les methodes mathematiques ou methodes directes-affinement et description de la structure Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité ST9596 543/03.1 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Exclu du prêt ST9603 543/03.2 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST9597 543/03.3 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST9598 543/03.4 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST9599 543/03.5 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST9600 543/03.6 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST9601 543/03.7 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible ST9602 543/03.8 Ouvrage Faculté des Sciences et de la Technologie 500 - Sciences de la nature et Mathématiques Disponible