| Titre : |
Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Claude Esnouf, Auteur |
| Editeur : |
Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes |
| Année de publication : |
cop. 2011 |
| Collection : |
Metis LyonTech |
| Importance : |
1 vol. (XVI-579 p.) |
| Présentation : |
ill., couv. ill. |
| Format : |
24 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-88074-884-5 |
| Prix : |
64,50 EUR |
| Note générale : |
Notes bibliogr. Index
Diff. en France |
| Langues : |
Français (fre) |
| Mots-clés : |
matériaux microstructurale rayonnements X électronique cristallographie radiocristallographie imagerie électronique spectroscopies x |
| Index. décimale : |
537 |
| Résumé : |
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.
Présentation de l'éditeur
Cet ouvrage présente, de façon exhaustive et pédagogique, l’ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l’exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu’aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques. Complété d’exercices, ce manuel s’adresse principalement aux étudiants de second cycle d’écoles d’ingénieur et de Master, mais aussi aux praticiens désireux d’approfondir leurs connaissances dans le domaine. |
Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, cop. 2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm. - ( Metis LyonTech) . ISBN : 978-2-88074-884-5 : 64,50 EUR Notes bibliogr. Index
Diff. en France Langues : Français ( fre)
| Mots-clés : |
matériaux microstructurale rayonnements X électronique cristallographie radiocristallographie imagerie électronique spectroscopies x |
| Index. décimale : |
537 |
| Résumé : |
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.
Présentation de l'éditeur
Cet ouvrage présente, de façon exhaustive et pédagogique, l’ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l’exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu’aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques. Complété d’exercices, ce manuel s’adresse principalement aux étudiants de second cycle d’écoles d’ingénieur et de Master, mais aussi aux praticiens désireux d’approfondir leurs connaissances dans le domaine. |
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