الفهرس الالي للمكتبة المركزية بجامعة عبد الحميد بن باديس - مستغانم

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Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder

Public ISBD Titre : Semiconductor material and device characterization Type de document : texte imprimé Auteurs : Dieter K. Schroder, Auteur Editeur : New York : J. Wiley & sons Année de publication : cop. 1990 Importance : 599 p Présentation : ill., jaquette ill. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-51104-5 Note générale : Notes bibliogr. Index Langues : Anglais (eng) Langues originales : Anglais (eng) Mots-clés : mobility  deep-level impurities  carrier lifetime  Semiconductor material and device characterization Index. décimale : 530 Semiconductor material and device characterization [texte imprimé] / Dieter K. Schroder, Auteur . - New York : J. Wiley & sons, cop. 1990 . - 599 p : ill., jaquette ill. ; 25 cm. ISBN : 978-0-471-51104-5 Notes bibliogr. Index Langues : Anglais (eng) Langues originales : Anglais (eng) Mots-clés : mobility  deep-level impurities  carrier lifetime  Semiconductor material and device characterization Index. décimale : 530

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
CF2-004164	530-249.1	Ouvrage	Bibliothèque Centrale	500 - Sciences de la nature et Mathématiques	Exclu du prêt
F2-006391	530-249.2	Ouvrage	Bibliothèque Centrale	500 - Sciences de la nature et Mathématiques	Disponible

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